Microscopio electrónico de barrido

Carta Poco común · N.º 88260

El microscopio electrónico de barrido (MEB o SEM, por scanning electron microscope) es un tipo de microscopio electrónico capaz de producir imágenes de alta resolución de la superficie de una muestra utilizando las interacciones electrón-materia. Aplica un haz de electrones en lugar de un haz de luz para formar una imagen.​ Apoyándose en los trabajos de Max Knoll de los años 1930 fue Manfred von Ardenne quien logró inventar el MEB en 1937 que consistía en un haz de electrones que barría la superficie de la muestra a analizar, que, en respuesta, reemitía algunas partículas. Estas partículas son analizadas por los diferentes sensores que hacen que sea posible la reconstrucción de una imagen tridimensional de la superficie. Los trabajos realizados en la década de 1960 en el laboratorio de Charles William Oatley, en la Universidad de Cambridge, contribuyeron en gran medida al desarrollo del MEB, y dieron lugar en 1965 a la comercialización, por parte de Cambridge Instrument Co., de los primeros…

Leer en Wikipedia · Imagen Rechteinhaber: Dr. rer. nat. Alexander von Ardenne, CC BY-SA 3.0