Microscopio de fuerza atómica
microscopio de barrido de alta resolución
Microscopio de fuerza atómica
El microscopio de fuerza atómica (AFM, de sus siglas en inglés atomic force microscope) es un instrumento mecano-óptico capaz de detectar fuerzas del orden de los nanonewtons. Al rastrear una muestra, es capaz de registrar continuamente su topografía mediante una sonda o punta afilada de forma piramidal o cónica. La sonda va acoplada a un listón o palanca microscópica muy flexible de sólo unos 200 µm. El microscopio de fuerza atómica ha sido esencial en el desarrollo de la nanotecnología, para la caracterización y visualización de muestras a dimensiones nanométricas (10–9 m = 1 nm).
Leer en Wikipedia · Imagen Atomic_force_microscope_block_diagram_v2.svg: Twisp derivative work: AngelHerraez (talk), Public domain
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